Kurzfassung
Die Ebenheitsprüfung von Böden auf Baustellen ist seit Jahrzehnten normiert. Die einge-setzten Methoden reichen von Richtlatten und Keilen über Laser-Nivelliersysteme bis hin zu Bodenprofilsystemen. Der Einsatz von Laserscannern war bislang eher unüblich. Der RIEGL VZ-600i Laserscanner ermöglicht hochauflösende Scans von großen Flächen – bis zu einem Scan pro Minute. So können großer Flächen rasch erfasst und Baustellen damit effizient vermessen werden. Zudem bieten sich vielfältige Möglichkeiten zur Weiter-verarbeitung der Daten. Diese Methode eignet sich insbesondere zur präzisen Überprüfung der Ebenheit von Betonböden. Dieser Artikel erläutert die einzelnen Schritte der Ebenheitsprüfung anhand eines konkreten Praxisbeispiels – von der Nutzung von Festpunkten und Referenzmessungen über die Da-tenerfassung bis hin zur Datenverarbeitung. Ziel ist es, zu zeigen, dass die erzielten Ergeb-nisse sowohl den normativen Anforderungen entsprechen als auch für den praktischen Einsatz geeignet sind.

Abstract
The flatness testing of floors on construction sites has been standardized for decades. The methods used range from straight edges and wedges to laser leveling systems and floor profile systems. Until now, the use of laser scanners has been rather uncommon. The RIEGL VZ-600i laser scanner enables high-resolution scans of large areas – up to one scan per minute. This allows large areas to be quickly captured and construction sites to be measured efficiently. In addition, there are many possibilities for further processing the data. This method is particularly suitable for precisely checking the flatness of concrete floors. This article explains the individual steps of the flatness test using a concrete practical ex-ample – from the use of fixed points and reference measurements to data acquisition and data processing. The aim is to show that the results obtained both meet the normative requirements and are suitable for practical use.

Kurzfassung
Obwohl der Einfluss des Auftreffwinkels (AW) zu den bekannten Fehlereinflüssen von terrestrischen Laserscannern (TLS) gehört, wird er bei der Beurteilung von TLS-Daten äußerst selten berücksichtigt. In diesem Paper wird eine grundsätzliche Frage behandelt, ob er stochastischer oder systematischer Natur ist oder eine Kombination von beiden darstellt. Dazu wurde eine neue Methodik entwickelt. Ihre Besonderheit besteht darin, dass die direkt gemessenen TLS-Distanzen mit Referenzdistanzen verglichen werden. Sie ist optional für den Nahbereich und für längere Entfernungen umsetzbar und wird hier mit einem impulslaufzeitbasierten TLS realisiert. Im Nahbereich von 3,5 bis 5,2 m wirken sich andere Fehlereinflüsse mit Beträgen bis 4,4 mm stärker auf die Distanzmessung aus als der AW. In der Entfernung von 30 m wurde ein systematischer Effekt des AW festgestellt. Die Distanzänderung in Abhängigkeit vom AW beträgt ca. 2,0 mm. Die stochastischen Eigenschaften des Einflusses des AW konnten nicht quantifiziert werden. Eine zukünftige Verbesserung der Methodik ausgehend von den gewonnenen Erkenntnissen soll eine vollständige Beschreibung dieses Fehlereinflusses gewährleisten.

Abstract
Although the influence of incidence angle (IA) is one of the known error influences of terrestrial laser scanners (TLS), it is not taken into account in the evaluation of TLS-data. In this paper the fundamental question is discussed, how the IA influences the TLS-distances, if the uncertainty is of stochastic or of systematic nature or of a combination of both. For this purpose, a new methodology has been developed. Its special feature is that the directly measured TLS-distances are compared with reference distances. It can be applied for close range and for longer distances. The methodology was realised with a time of flight laser scanner. At close range of 3.5 to 5.2 m other error effects up to 4.4 mm are more pronounced than the influence of IA. At the distance of about 30 m, a systematic effect of IA was found. The total variation of the distance difference with IA is of ca. 2.0 mm. The stochastic properties of the influence of IA could not be quantified. In future works the methodology will be improved with respect to the obtained knowledge in order to quantify the error influence completely.